射频在片测试系统

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产品简介

Formfactor的RFgenius晶圆上S参数测量包括以合理的价格实现精确测量所需的所有关键组件 – 从探测站到网络分析仪。所有这些都经过验证并证明可提供领先的性能测量。这个入门级系统是大学和学校的完美,易于购买的选择,实验室空间最小。

RFgenius软件包包括执行高度精确测量的所有关键组件。不仅是探针台,探针,定位器,电缆,校准基板和校准软件,还有矢量网络分析仪(VNA) – 业界首创。

该解决方案的性能范围得到了进一步增强,远远超出了简单的产品包。这些组件的完美集成,与先进的人体工程学设计和易于操作的控制相结合,确保了最佳的可用性和高度精确的测量。

标准配置

  1. 150毫米手动探针台

    • RF卡盘+/-3μm表面平面度

    • 独特的200μm压板接触/分离行程,精度小于或等于1μm,可重复接触

    • 精准的探针对准

    • 一致的接触力和超行程

    • 稳定的接触性能

  1. 是德科技VNA

    • 宽频率覆盖范围:4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz

    • 全2端口VNA

    • 小巧紧凑的外形

    • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校准和计量功能

    • Keysight VNA的通用GUI

    • 能够扩展端口数量

  1. 探头和电缆

    • 无限探头– 最适合AI(Si)

    • ACP探针– 最适合AU(III-Vs)

    • | Z | 探测– 坚固的解决方案,使用寿命长

    • 精确接触各种材料

    • 准确的测量结果和卓越的串扰特性

    • 包含了匹配的电缆和衬底

  1. 校准工具

    • 独有的 1、2、3 和 4 端口晶圆上校准算法

    • 自动化校准监视

    • 独特的测量和分析方法

    • 准确的S参数测量

    • 自动校准设置用于提高效率

    • 简便快捷的数据解释和报告

完整的软件包,以及可用的支持,安装和培训。


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